技術文章

電阻測量設備選型指南-日本napson電阻測量儀器

Napson制造和銷售接觸式和非接觸式電阻測量設備。我們將介紹這兩種類型的電阻測量方法的優(yōu)缺點。（*由典型的四探針法和渦流法描述。其他一些測量方法有所不同。）

每種測量方法的優(yōu)缺點（接觸式和非接觸式）

接觸式和非接觸式電阻測量的特點

按測量原理：薄層電阻測量范圍（參考材料）

*脈沖電壓激勵方法：由千葉大學聯合開發(fā)（已獲得號5386394）
*電暈放電方法：由Yamagata大學聯合開發(fā)（已獲得5510629）
*以上測量范圍是它是文檔創(chuàng)建時的大概數字。由于技術進步，如有更改，恕不另行通知。

定制示例-電阻測量儀（非接觸，接觸）

憑借完整的產品陣容和定制支持，
可以*根據客戶的要求進行安裝。

在Napson，我們積累了豐富的專業(yè)知識，可根據許多安裝記錄來優(yōu)化客戶研究設施和質量控制設施中使用的內容，并擁有完整的產品陣容。我們也應客戶的要求接受定制。請先與我們聯系。我們將提供醉適合您要求的設備。

定制案例

納普森的優(yōu)勢

1個
靈活的設備定制，以滿足客戶需求
“我想將此功能添加到此設備”，“我想從標準規(guī)格中更改測量范圍”等。如果您想自定義產品，請首先讓我們知道您的要求。我們會根據測量方法和被測物體的用途來響應功能的增加。
2
所有設備均為日本制造，具有響應能力，因為它是國內制造商
我們在日本（千葉縣）的自己的工廠中進行從設備開發(fā)到設計（包括軟件）和制造的所有工作，并實現高品質和高可靠性測量設備的開發(fā)和制造。
（*設備中的某些加工產品已外包給外部合作伙伴公司）
3
完善的權球支持系統(tǒng)
除了我們在日本的支持系統(tǒng)外，我們還與來自亞洲（韓國，中國，中國臺灣，新加坡），歐洲（法國，德國，英國）和美國（美國馬薩諸塞州）的權球合作伙伴建立了完善的權球支持系統(tǒng)。我們正在建造。
四個
在日本和海外，硅晶片和FPD行業(yè)的份額超過80％*。
我們贏得了與硅相關，液晶，太陽能電池和LED等各個行業(yè)的客戶的深刻信任，并且我們在日本硅晶片行業(yè)的銷售份額超過80％* [4探針法測量儀器]，包括液晶在內的權球平板工業(yè)（薄膜測量）的銷售份額在權球超過80％* （*截至2014年）。
五
在日本（千葉縣）的工廠進行示范/樣品測量和設備參觀的信息
各種演示設備詠玖安裝在我們的千葉技術中心（*某些目錄標準規(guī)格）。您可以在交付之前和檢查階段檢查對象的測量數據和規(guī)格的詳細信息。“客戶物體的實際測量結果是什么？”，“設備的實際使用感覺和安裝尺寸是什么？” 請隨時與我們聯系。