日本sinko-denki針孔檢測原理介紹

日本sinko-denki針孔檢測原理介紹

針孔檢測原理

將兩個金屬體（電極）以恒定距離 (t) 放置在空氣中，并在兩個電極之間連接高壓發(fā)生器 (E)。接下來，隨著電源電壓的逐漸增加，您可以在電極之間看到一定值的聲光條紋。（見圖1）

這是因?yàn)榭諝獗皇┘釉陔姌O之間的電壓破壞而失去電絕緣性，這種射線系統(tǒng)現(xiàn)象稱為火花放電。
空氣被電壓擊穿稱為介質(zhì)擊穿，此時的電壓稱為擊穿電壓。絕緣耐壓
是空氣絕緣能承受一定電壓的破壞力。

用于包裝的絕緣材料，如薄膜和塑料容器，通常具有比空氣更高的介電強(qiáng)度。因此，如果在引起放電的電極之間插入薄膜等，則電極會被高介電強(qiáng)度阻擋，放電會失去返回路徑而停止。（參見圖 2。）

因此，如果在電極之間施加一個不破壞封裝材料而只破壞空氣絕緣的電壓，則用完好的封裝材料不會發(fā)生放電，只有針孔等有缺陷的部分才會放電。（參照圖3）針孔檢查機(jī)檢測有無這種放電，判斷產(chǎn)品的質(zhì)量。

包裝針孔檢測原理

1 針孔檢查方法

左圖為封裝后的針孔檢測裝置的檢測輪廓。
如果在封裝通過檢查電極下方時檢測到針孔或密封不良，則檢查電極與內(nèi)容物之間以及接地電極與內(nèi)容物之間將發(fā)生放電。
該設(shè)備檢測是否存在這種放電，并確定包裝中針孔的質(zhì)量。

2、針孔檢測原理

圖 4 用等效電路代替了針孔檢查的示意圖。

C1是檢查電極和內(nèi)容物之間形成的電容，C2是接地電極和內(nèi)容物之間形成的電容。R是內(nèi)容物的電阻。

如果接地電極比檢查電極大，C2 的阻抗與 C1 相比可以忽略不計，則可以將其視為 C1 和 R 的串聯(lián)電路，如圖 5 所示。

此外，如果內(nèi)容物是導(dǎo)電的并且電阻可以忽略不計，電路配置將與上一節(jié)中的圖3相同，并且可以進(jìn)行穩(wěn)定的針孔檢查。

如果在電極之間施加不破壞包裝材料而僅破壞空氣絕緣的電壓，則如果包裝材料有針孔或密封不良，則會發(fā)生放電。通過檢測有無這種放電，可以判斷產(chǎn)品針孔的好壞。